本标准给出了使用连续变波长、变角度的光谱型椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法。
本标准适用于测试硅基底上厚度均匀、各向同性、10 nm~1 000 nm厚的二氧化硅薄层厚度,其他对测试波长处不透光的基底上单层介电薄膜样品厚度测量可以参考此方法。
声明：本站所有均来自互联网，如若本站内容侵犯了原著者的合法权益，可联系站长进行处理。
GB/T 31225-2014 pdf下载 椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法
【站长提醒】：如果大家在下载文档的时候出现了“404 Not Found”的问题，请看一下下载地址里面最后的后缀是什么，如果后缀是rar就换成zip再下载，如果后缀是zip就换成rar再下载。如果还是无法下载正常下载文件，请加站长QQ 313777707解决。
-
免费下载或者VIP会员资源能否直接商用？本站所有资源版权均属于原作者所有，这里所提供资源均只能用于参考学习用，请勿直接商用。若由于商用引起版权纠纷，一切责任均由使用者承担。更多说明请参考 VIP介绍。
-
提示下载完但解压或打开不了？最常见的情况是下载不完整: 可对比下载完压缩包的与网盘上的容量，若小于网盘提示的容量则是这个原因。这是浏览器下载的bug，建议用百度网盘软件或迅雷下载。 若排除这种情况，可在对应资源底部留言，或联络我们。
-
找不到素材资源介绍文章里的示例图片？对于会员专享、整站源码、程序插件、网站模板、网页模版等类型的素材，文章内用于介绍的图片通常并不包含在对应可供下载素材包内。这些相关商业图片需另外购买，且本站不负责(也没有办法)找到出处。 同样地一些字体文件也是这种情况，但部分素材会在素材包内有一份字体下载链接清单。
-
付款后无法显示下载地址或者无法查看内容？如果您已经成功付款但是网站没有弹出成功提示，请联系站长提供付款信息为您处理
-
购买该资源后，可以退款吗？源码素材属于虚拟商品，具有可复制性，可传播性，一旦授予，不接受任何形式的退款、换货要求。请您在购买获取之前确认好 是您所需要的资源