SJ/T 11706-2018 pdf下载 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 。Semiconductor integrated circuits test methodof field programmable gate array .
本标准规定了SRAM现场可编程门阵列(FieldProgrammableGateArray以下简称FPGA的电参数测试方法。
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SJ/T 11706-2018 pdf下载 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
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