JY/T 009-1996 pdf下载 转靶多晶体X射线衍射方法通则

本标准规定了用多晶体X射线衍射仪在室温、高.低温条件下对各种多晶材料进行物相组成的定性分析、物相组成的定量分析、晶粒的大小(范围约为1nm~ 200nm)及晶粒内点阵畸
变的测定。属立方晶系晶体的点阵常数的测定的一-般方法。
本标准适用于各种多晶体材料,如金属与合金、矿物与土壤、陶瓷与建筑材料、有机与无机化合物、药物与聚合物及环保试样等。主要适用于衍射仪法,但可参照使用于照相法。